X荧光光谱仪 XRF

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X射线荧光光谱仪 EDX-720

作者:admin 时间:2016-09-10 来源:

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X射线荧光光谱仪 EDX-720
性能:迅速测定ppm级的有害金属!
应对WEEE & RoHSELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。
X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求,畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
参数:测定原理     X射线荧光分析法
      测定方法      能量色散型
      测定对象      固体、液体、粉状
      测定范围      13Ai~92U
      样品室尺寸     最大W370*D320*H155mm
优势:
>> EDX-720/800HS/900HS配备自动开关式大型样品室,可放入最大300mmφ×150mmH的样品。
>> 标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。
>> 标准配备无需标准样品的含量匹配软件。
>> 标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片。可提高氯(Cl)、镉(Cd)等的检测灵敏度。
>> 结构紧凑的台式机,主机尺寸为W580×D650×H420mm
>> 样品图像观察采用CCD装置,便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。

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应对WEEE & RoHSELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。
X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求,畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
参数:测定原理     X射线荧光分析法
      测定方法      能量色散型
      测定对象      固体、液体、粉状
      测定范围      13Ai~92U
      样品室尺寸     最大W370*D320*H155mm
优势:
yle="width:100.0%;" width="100%">
yle="height:28px;"> >> EDX-720/800HS/900HS配备自动开关式大型样品室,可放入最大300mmφ×150mmH的样品。
yle="height:28px;"> >> 标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。
yle="height:28px;"> >> 标准配备无需标准样品的含量匹配软件。
yle="height:28px;"> >> 标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片。可提高氯(Cl)、镉(Cd)等的检测灵敏度。
yle="height:28px;"> >> 结构紧凑的台式机,主机尺寸为W580×D650×H420mm
yle="height:28px;"> >> 样品图像观察采用CCD装置,便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。


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